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题名:
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数字电路实验与综合设计 / 主编陈金西 , |
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ISBN:
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978-7-5615-3280-5 价格： CNY18.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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176页 图 26cm |
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出版发行:
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出版地： 厦门 出版社： 厦门大学出版社 出版日期： 2009 |
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内容提要:
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本书主要内容包括：基本门电路、TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试、集电极开路门与三态门的应用、组合逻辑电路设计、触发器及其应用、时序逻辑电路实验、计数器及其应用等。 |
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主题词:
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数字电路 实验 |
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中图分类法:
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TN79-33 版次： 4 |
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主要责任者:
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陈金西 主编 |
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索书号:
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TN79-33/7481 |
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索书号:
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TN79-33/7481 |
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索书号:
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TN79-33/7481 |