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题名:
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全面的功能验证 / (美) Bruce Wile, John C. Goss, Wolfgang Roesner著 , 沈海华, 乐翔译 |
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ISBN:
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978-7-111-29641-6 价格： CNY98.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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XXI, 487页 图 24cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 机械工业出版社 出版日期： 2010 |
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内容提要:
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本书分5个部分。第1部分的内容是功能验证概述, 包括概念背景、验证计划、验证策略和一些基本练习 ; 第2部分和第3部分关注两个最主要的功能验证方法: 基于模拟的验证方法和形式验证方法 ; 第4部分把注意力集中在验证周期的后期阶段 ; 第5部分, 是一些验证实例研究的集合, 进一步强调了验证周期和验证过程中的相关概念。 |
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主题词:
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半导体集成电路 芯片 |
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中图分类法:
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TN430.2 版次： 4 |
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其它题名:
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完整的工业流程 |
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主要责任者:
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怀尔 著 |
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主要责任者:
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戈斯 著 |
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主要责任者:
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Roesner, 著 |
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次要责任者:
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沈海华 译 |
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次要责任者:
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乐翔 译 |
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责任者附注:
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责任者规范汉译姓: 怀尔 戈斯 |
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索书号:
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TN430.2/9127 |