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题名:
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FPGA芯片设计与测试技术研究 FPGA xin pian she ji yu ce shi ji shu yan jiu / 张惠国，顾涵著 , |
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ISBN:
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978-7-5672-3899-2 价格： CNY59.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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196页 图 24cm |
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出版发行:
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出版地： 苏州 出版社： 苏州大学出版社 出版日期： 2022 |
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内容提要:
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本书围绕基于SRAM的FPGA，基于岛状的架构，对FPGA的各个模块进行了详细的分析和设计，并设计了可扩展的FPGA配置电路以及可靠全局信号网络，同时对FPGA进行了抗辐照改进设计研究。本书详细解析了FPGA内部的逻辑、布线、配置、接口、可靠性设计、测试等方面的知识，涉及了FPGA芯片涉及的多个方面，可为从事FPGA芯片设计人员和FPGA应用工程师提供了芯片内部的设计知识，提升对FPGA器件的设计和应用能力。 |
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主题词:
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可编程序逻辑阵列 研究 |
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中图分类法:
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TP332.1 版次： 5 |
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主要责任者:
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张惠国 zhang hui guo 著 |
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主要责任者:
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顾涵 gu han 著 |
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索书号:
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4 |