|
题名:
|
伪集成电路检测与防护 [ 专著] wei ji cheng dian lu jian ce yu fang hu / (美)马克(穆罕默德)·德黑兰尼普尔(Mark (Mohammad) Tehranipoor)，(美)乌杰瓦尔·吉恩(Ujjwal Guin)，(美)多梅尼克·福特(Domenic Forte)著 , 李雄伟[等]译 |
|
ISBN:
|
978-7-118-12500-9 价格： CNY125.00 |
|
语种:
|
chi |
|
载体形态:
|
20,227页 图 24cm |
|
出版发行:
|
出版地： 北京 出版社： 国防工业出版社 出版日期： 2022 |
|
内容提要:
|
本书从伪集成电路的案例分析、分类、缺陷特征、物理检测和电子检测、防伪设计等多个方面进行了研究和阐述。 |
|
主题词:
|
集成电路 检测 |
|
中图分类法:
|
TN407 版次： 5 |
|
主要责任者:
|
德黑兰尼普尔 de hei lan ni pu er 著 |
|
主要责任者:
|
吉恩 ji en 著 |
|
主要责任者:
|
福特 fu te 著 |
|
次要责任者:
|
李雄伟 li xiong wei 译 |
|
附注:
|
装备科技译著出版基金 Springer |