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题名:
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嵌入式处理器片上追踪调试技术 [ 专著] qian ru shi chu li qi pian shang zhui zong tiao shi ji shu / 扈啸，王耀华，阮喻著 , |
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ISBN:
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978-7-5673-0580-9 价格： CNY49.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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199页 图 24cm |
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出版发行:
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出版地： 长沙 出版社： 国防科技大学出版社 出版日期： 2022 |
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内容提要:
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本书针对嵌入式多核处理器的片上trace调试关键技术展开研究，对嵌入式处理器的调试模型和片上trace的实现模型、trace信息采集压缩技术、trace数据流的片上传输技术、片上trace的应用技术以及程序控制流错误检测技术，都进行了深入论述和研究。第1章和第2章介绍了本书的研究背景和主要内容，并从行业标准、业界产品、仿真器和学术研究四个方面详细介绍了片上调试的技术现状等。 |
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主题词:
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微处理器 调式方法 |
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中图分类法:
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TP332 版次： 5 |
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主要责任者:
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扈啸 hu xiao 著 |
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主要责任者:
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王耀华 wang yao hua 著 |
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主要责任者:
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阮喻 ruan yu 著 |