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题名:
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集成电路测试基础 [ 专著] ji cheng dian lu ce shi ji chu / 谷颜秋主编 , 佛山市联动科技股份有限公司编著 |
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ISBN:
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978-7-121-43802-8 价格： CNY100.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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10,320页 图 26cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 电子工业出版社 出版日期： 2022.07 |
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内容提要:
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本书系统地介绍了集成电路测试所涉及的基础知识和实践经验。全书共分为15章，主要内容包括实际的导线、电阻、电容、电感元件在测试电路中的影响，自动测试设备(ATE)V/I源的基本原理和实际应用限制，一些简单的模拟和数字集成电路测试原理和方法，测试数据分析的常用方法，以及测试电路相关的信号完整性方面的简单介绍，并结合测试开发的实际案例讲解了集成电路测试项目开发流程。 |
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主题词:
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集成电路 电路测试 |
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中图分类法:
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TN407 版次： 5 |
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主要责任者:
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谷颜秋 gu yan qiu 主编 |
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主要团体责任者:
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佛山市联动科技股份有限公司 fo shan shi lian dong ke ji gu fen you xian gong si 编著 |