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题名:
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高管团队风险偏好对技术创新失败企业再创新影响机理研究 [ 专著] gao guan tuan dui feng xian pian hao dui ji shu chuang xin shi bai qi ye zai chuang xin ying xiang ji li yan jiu / 张洋著 , |
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ISBN:
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978-7-5487-5537-1 价格： CNY42.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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233页 21cm |
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出版发行:
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出版地： 长沙 出版社： 中南大学出版社 出版日期： 2024 |
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内容提要:
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本书从个人和企业两个层面选取15个指标，构建高管团队风险偏好综合测度指标体系，建构了高管团队风险偏好综合测度模型，分析了高管团队风险偏好对企业技术创新失败再创新行为的影响效应，探讨了高管团队风险偏好对企业技术创新失败再创新绩效的影响效应，揭示了失败再创新行为在高管团队风险偏好与失败再创新绩效间的中介效应。根据本文研究结论，针对技术创新失败企业分别从企业和政府两个层面提出对策和建议。 |
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主题词:
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风险管理 影响 |
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中图分类法:
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F273.1 版次： 5 |
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主要责任者:
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张洋 zhang yang 著 |