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题名:
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微电子计量测试技术
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沈森祖[等]主著
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ISBN:
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978-7-5612-2516-5
价格：
CNY30.00
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语种:
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chi
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载体形态:
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11,227页
26cm
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出版发行:
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出版地：
西安
出版社：
西北工业大学出版社
出版日期：
2009
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内容提要:
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本书从工程的实际应用出发，介绍了微电子计量测试的基本概念、微电子计量技术、微电子测试技术、微电子测试设备以及微电子测试程序设计开发技术等内容。
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主题词:
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微电子技术
测试技术
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中图分类法:
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TN407
版次：
5
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主要责任者:
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沈森祖
主著
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索书号:
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8
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