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题名:
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数字集成电路测试优化 / 李晓维 ... [等] 著 , |
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ISBN:
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978-7-03-027894-4 价格： CNY58.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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11, 344页 24cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 科学出版社 出版日期： 2010 |
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内容提要:
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本书内容涉及数字集成电路测试优化的三个主要方面：测试压缩、测试功耗优化、测试调度。包括测试数据压缩的基本原理，激励压缩的有效方法，测试响应压缩方法和电路结构；测试功耗优化的基本原理，静态测试功耗优化方法，动态测试功耗优化；测试压缩与测试功耗协同优化方法；测试压缩与测试调度协同优化方法；并以国产64位高性能处理器(龙芯2E和2F)为例介绍了相关成果的应用。 |
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主题词:
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数字集成电路 测试技术 |
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中图分类法:
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TN431.207 版次： 4 |
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其它题名:
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测试压缩、测试功耗优化、测试调度 |
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主要责任者:
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李晓维 著 |
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附注:
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中国科学院科学出版基金资助出版 |
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索书号:
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TN431.207/4062 |