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题名:
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程序设计缺陷分析与实践 / 尹浩, 于秀山编著 , |
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ISBN:
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978-7-121-12969-8 价格： CNY36.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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268页 图 24cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 电子工业出版社 出版日期： 2011 |
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内容提要:
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本书共5章2个附录, 分别介绍了程序设计缺陷静态分析方法、C/C++语言程序设计缺陷分析、Java语言程序设计缺陷分析、软件质量静态度量以及静态测试工具使用实践。重点介绍了C/C++语言程序在编码风格、内存管理、缓冲区使用、指针以及安全等方面存在的典型缺陷, 并结合实例对每种缺陷进行了分析, 同时给出了缺陷修改方法。 |
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主题词:
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程序设计 |
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中图分类法:
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TP311.1 版次： 5 |
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中图分类法:
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TP311.1 版次： 4 |
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主要责任者:
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尹浩, 编著 |
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主要责任者:
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于秀山 编著 |
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索书号:
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TP311.1/1734 |
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索书号:
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TP311.1/1734 |