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题名:
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R & D资源约束下中国自主创新能力提升的路径选择 / 李平著 , |
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ISBN:
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978-7-01-010176-7 价格： CNY58.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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[11], 436页 23cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 人民出版社 出版日期： 2011 |
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内容提要:
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本书对国际技术扩散效应的实证研究进行了扩展和突破。其一，借鉴国际贸易的度量方法，将国际人力资本流动和国际文献引用溢出的国际研发进行量化，拓展了传统国际技术扩散的研究框架；其二，将五大国际技术扩散路径纳入同一实证模型以考察其对中国创新能力的影响，并按地区分组进一步比较了国际技术扩散对不同地区技术进步与创新影响的差异；最后，使用门限检验模型检验了技术吸收国自身特征及吸收能力促进国际技术扩散的门限效应，以更为精确地测定各个因素对国际技术扩散的影响。 |
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主题词:
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中国经济 经济发展 |
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中图分类法:
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F124 版次： 4 |
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主要责任者:
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李平 著 |
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索书号:
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F124/4010 |
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索书号:
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F124/4010 |